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Flying Probe Test

一家專注于半導體、集成電路、LED老化測試系統、工業自動化測試檢測產品的設計、研發、銷售以及提供相關檢測技術服務和支持的科技公司。

飛針測試 Flying Probe Test
產品描述

新品開發(NPI):當新品的樣件還沒有全部定型,而且需要對該樣件的性能進行評估時,飛針測試的快速和靈活性立刻就體現出來了,因為它不需要等著治具或產生過多的測試成本。

測試中的生產力:在新版的VIVA3.0軟件中,體現出其運算法則和測試理念的演變,其特色在于,Seica公司生產的飛針測試設備的測試速度變得更快,更適應電路板生產的快節奏。若干種測試方法的集成,如在板編程(OBP)、光學檢測、紅外熱掃描檢測以及具有對加電被測板進行功能測試的能力等,都可以講這些不同生產階段的測試任務集成在一起,將其優化。

維修:在沒有最終的功能測試的條件下,而標準的ICT的測試性能下降或缺乏應有的功能,此外,飛針測試便凸顯出其作為維修工具的價值了,因為它具備了提供你所關注和有效的統計數據的能力。特別是對于被測板上所檢測出來的各種類型的故障,運用其完善的運算法則。

反求工程:維修電路板是一件困難的工作,特別是手頭上沒有設計文件,會難上加難;而反求工程可以輕而易舉地重現板圖和原理圖。


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